Jornal de Ciência e Tecnologia de Membranas

Abstrato

Estruturas e propriedades do filme-barreira de óxido de alumínio anodizado por espectroscopia de impedância eletroquímica à escala nanométrica

K. Habib e K. Al-Muhanna

Neste estudo, foi investigado o efeito do tratamento de recozimento no comportamento eletroquímico e na espessura do filme de barreira de óxido da liga anodizada de alumínio-magnésio (Al-Mg). Parâmetros eletroquímicos como a resistência de polarização (RP), resistência de solução (RSol), impedância de corrente alternada (Z) e capacitância de dupla camada (CdL) da liga anodizada de Al-Mg foram determinados em soluções de ácido sulfúrico que variam de -1 % H2SO4 por métodos de espectroscopia de impedância eletroquímica (EIS). De seguida, determinou-se a espessura do filme de óxido da liga Al-Mg anodizada a partir dos parâmetros eletroquímicos obtidos em função da concentração de ácido sulfúrico (-1% H2SO4), nas condições de amostra recebida e amostra recozida. A espessura ótima do filme de óxido foi determinada para as amostras recebidas (4,2nm) e para as amostras recozidas (0,63nm) a concentrações de ácido sulfúrico de 4% e 2% de H2SO4, respetivamente. A razão por detrás da espessura do filme de óxido das amostras recebidas é maior do que a das amostras recozidas, porque as primeiras amostras são termodinamicamente instáveis ​​(mais quimicamente ativas) em comparação com as amostras recozidas. Foi desenvolvido um modelo matemático para interpretar o mecanismo de formação do filme de óxido no substrato de alumínio. O modelo matemático da formação do filme de óxido no substrato de alumínio foi proposto para o próximo desafio do presente trabalho.